AXD/安信達-SSD固態硬盤、DOM電子盤品質控制

AXD安信達深耕經營閃存存儲市場十多年，是專業工業嵌入式固態存儲解決方案廠商，主要生產適用于工業級以及軍工級和嵌入式的SSD固態硬盤和DOM電子硬盤,閃存CF等存儲產品的供應商,擁有優異的客制化能力、嚴謹的制造質量與實時的技術支持，是高可靠度的最佳儲存解決方案！

AXD/安信達不同于消費類的產品，使用的閃存顆粒 閃存制成雜亂無章，完全沒有清晰的定位。

    我們立足于技術創新，以市場為導向，客戶為核心，對于客戶端的制造流程，AXD安信達更是強調一經客戶驗證后，即可固定韌體(Firmware)與組件，并且賦予獨特的專屬料號，提供穩定供貨。期望通過我們的產品與服務滿足不同行業客戶的需求，努力為客戶創造價值的宗旨。高質量、高可靠、高性能產品是我們不斷創新，不斷進取的追求......

AXD安信達先進的測試能力：

AXD安信達提供了深入的測試能力和標準，增強測試能力。我們豐富的檢測經驗使我們能夠避免生產和零部件的缺陷，確保產品質量的最高水平。除了我們下面列出廣泛的標準流程，AXD安信達擁有定制的測試流程，以滿足特定應用需求的能力。
測試流程流程：

功能測試：我們的產品100％的制造之后功能測試。
系統級測試：我們的固態硬盤和閃存模塊的100％的實際客戶的主板或客戶認可的主板具有相同的芯片組和安裝測試，使用的是在真正的速度診斷程序進行的。系統測試是至關重要的捕捉缺陷如不能用標準試驗系統中發現的ECC錯誤。
燒機測試

AXD安信達根據應用或客戶的要求，系統級測試中的產品如上所述下Temptronic Thermalstream單位亦測試溫度低至-45℃時，或者是使用一個低溫烘箱長達12小時的時間進行測試在85℃的環境。
AXD安信達固態電子硬盤的測試完整的套件還包括：
溫度可達篩選 - 有助于降低客戶成本，并通過允許AXD安信達更換供應有限或成本較高的更廣泛使用的標準部件工業部件，縮短交貨時間
四角測試和其他資格等級測試，包括：焊錫質量，沖擊和振動，熱循環和HALT / HASS
參數規格
試驗過程中老化（TDBI） 通過，而在高溫下工作的捕捉短暫的異常情況
AXD安信達的工程和優質的團隊已經分析了NAND模塊的故障模式，并確定與存儲模塊使用的次優的可靠性NAND組件往往在運作初期失敗。如果一個半導體失敗，它通常是在它前三個月的使用。隨著新的NAND FALASH推進成更小的工藝尺寸，就不可能有包含“弱”位（單個單元中的一個微缺陷）芯片更大的風險。這是不足以引起失敗，但初始場操作開始后幾周內可表現出單個位錯誤。
為了進一步消除由于“邊緣”設備的任何潛在早期故障，并提高現場操作之前，SSD產品的整體可靠性，可以實現TDB。雖然大多數芯片在芯片級經受靜態老化，TDBI提供了一個非常獨特的，更全面的測試能力，因為它提供了在模塊級24小時老化測試而動態地運行和檢查測試圖案作為模塊脅迫條件下正在執行。由各個存儲器制造商所做的研究表明，使用TDBI室可降低早期失效高達90％。

AXD安信達的功能測試
功能測試，確保產品AXD符合產品規格AXD和工業/ OEM客戶的同意，而且還確保每一個產品在不同的主機環境的兼容性。 AXD功能測試包括：

性能測試：性能測試核對產品規格產品的真正性能。 AXD利用多種業界公認的基準測試軟件，如HDBench，ATTO磁盤基準和CrystalDiskMark的測量輸入/輸出性能，讀寫速度驗證和延遲測量。
電氣測試：電氣測試測量產品的電氣特性，如功耗，固件驗證，信號質量測量，協議兼容性和空閑電流測量。此外，DRAM產品的功能測試還包括測試，如型式試驗，密度試驗和ECC功能測試。
環境/機械測試：機械試驗驗證機械設計與主要的行業標準，如SDA，CFA，以及JEDEC整合。此外，一些環境試驗的目的是確保產品可以在極端的溫度，沖擊和振動的情況正常。該產品在不同的操作參數，如在非常高/低的溫度下進行測試，以密集的休克，或在一定的振動模式。另外，為了確保產品可以存儲在一個惡劣的環境中，高溫/高濕度存儲測試是同時進行的。與各種環境挑戰，測試，如鹽水噴霧試驗和紫外線照射試驗，也施用。
兼容性測試：兼容性測試確保ATP產品與各種操作系統（Windows操作系統或Linux），接口命令（DDR3，SATA，USB ...等），不同的讀卡器/數碼相機/主板兼容。的產品，操作系統，和接口的一測試矩陣形成為尋求用戶的體驗期間可能發生的任何可能的問題。
證書和符合性測試：由于不同國家和地區要求產品符合各種工業或環境標準，如CE，FCC，ROHS，REACH，UL94，IP67，MIL和WHQL，AXD安信達產品經過這些測試與第三方機構。

可靠性測試
在現實生活環境中的時間間隔期間可靠性測試測量產品的功能。電子產品的故障率隨著時間的推移通常被稱為是“浴缸曲線”。有在下面的圖表三個時區：一個）I區示出在早期階段，這通常是由制造缺陷引起的高，但迅速減少故障率。 AXD安信達采用長小時和高溫“燒機測試”剔除缺陷產品，從而顯著降低在此階段的故障。 B）II區，中間階段，使用壽命階段。故障在此階段通常是由隨機故障引起的。這是ATP強大的產品設計和高品質可以最大限度地減少故障率，延長了產品的使用壽命。 C）III區是“破舊期”。長工作時間和苛刻的應用環境逐漸惡化，產品的完整性。

鑒于性能可在相當長的時間周期下降，在可靠性測試的主要領域包括：環境試驗（諸如在極端高/低溫操作的測試，在高溫/高濕度環境中的存儲測試，鹽水噴霧和紫外線espouser試驗，沖擊和振動試驗...等）和電氣測試（包括廣泛的開/關循環測試和接觸式和非接觸式的EST測試）。
AXD安信達的研發團隊致力于提供最高品質的產品，每個測試都經過嚴格的設計，保證了AXD安信達品牌

寬溫（Wide Temperature）
工業級產品的極端溫度的能力是在商業級產品的重要特征的好處。極高溫和低溫的在工作環境中的循環是用于工業應用中常見的。例如，在北美的電信基站可以位于一個氣候與-30℃的冬季溫度和30℃的夏天。常規商業級別的產品，額定為0℃至70℃ ，可能會導致基站的問題才能正常工作時，由于這一事實，即周圍溫度將低于0℃，在次。
面對令人滿意的寬溫度（WT）工作要求的挑戰，AXD安信達利用其獨特的技術，對于固態存儲產品解決方案的IC級測試和系統級燒機測試的閃存解決方案，以確保產品達到并超過極端WT操作條件下，從-40°C至85°C的范圍。
此外，特定應用的測試模式進行編程，在自動測試設備（ATE）針對每個客戶的獨特的經營準則運行。這一新的解決方案，主要用于工業DRAM模塊的應用，如電信，網絡，工控，自動化和堅固耐用的系統，并實現最佳的總體擁有成本（TCO）與長期系統的可靠性。
在NAND閃存產品方面，只有非常特殊閃燈IC及IC封裝配置，可滿足-40°C工業級工作溫度范圍為85°C。 AXD安信達專注于這些配置，這使得-40°C至85°C較寬的溫度操作，與合理的總體擁有成本。

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